ZEISS Jena Interferential Messmikroskop Measuring Microscope Interferometer

Überprüfen der Flache, Sferische, Zilindrische oder Spezial Flache mit Interferenz Method.

Ja, der Fotoaufsatz wechseln nach eine Dig. Kamera ich denke nicht zu kompliziert ist.

Important Technical parameters:

Alles in Katalogblatter sichtbar, ja wir können durchschicken noch andere 5-6 Seiten

Zustand :

Optisch ,mechanis sehr gut, neuw Zustand.( Sammlerzustand ) unsere Fachman voll rekonditioniert, mit viele Zubehöre.

Dimension and Netto weight:

Summa ca 20kg, Lieferung in 2 St Packet oder in 1 Kleinalette mit voll Versicherung